Phoenix Microme|x Neo і Nanome|x Neo забезпечують високу роздільну здатність 2D рентгенівських технологій, PlanarCT і 3D комп’ютерної томографії сканування в одній системі, що дозволяє неруйнівного контролю (NDT) електронних компонентів — таких як напівпровідники, друковані плати, літій-іонні батареї — в промисловості, автомобілебудуванні, авіації та побутовій електроніці. Phoenix Microme|x Neo і Nanome|x Neo ідеально підходять для промислових перевірок рентгенівської електроніки в процесі і контролю якості для більшої продуктивності, аналізу відмов, для підвищення безпеки і якості вашої продукції.
Унікальні особливості
- Покращена роздільна здатність пікселів (85/100 мкм);
- Простота використання: звіт, який автоматично генерується після перевірки;
- Пакет X|act для програмування на основі CAD та автоматичної перевірки;
- Diamond|window для до 2 разів швидшого збору даних на тому ж високому рівні якості зображення;
- Опційно 3D сканування комп’ютерної томографії протягом 10 секунд;
- Shadow|target для запобігання чутливих пристроїв від радіаційного пошкодження за рахунок зменшення непотрібної дози;
- Оптична або рентгенівська навігаційна карта для огляду великих розмірів зразків і швидкого позиціонування.
Для отримання більш детальної інформації заповнюйте форму: